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建议可参考usp1790 3.3 - two stage inspection
第一阶段和第二阶段分别单独取样和制定可接受标准,个人理解第二阶段取样量和接收限度根据待定样品总量和ANSI/ASQ Z1.4制定,与第一阶段制定原则一致。
这里还特别强调了第二阶段检查一般需要不同的检查方法,或者更高的灵敏度检验方法(例如增加检验时间),自动灯检后再采用自动灯检进行第二阶段检查一般不推荐,除非是因为气泡等原因并且研究表明经过适当的放置时间可以消除气泡,这样第二次自动灯检可以降低错检率。
从题主流程图第二次自动灯检提高灵敏度这个,一般来说提高灵敏度会增加错检率,貌似不能将待定样品中错检本身无缺陷的产品的判定为合格品?如果可以的话为什么不直接用第二次自动灯检的参数直接进行整批次灯检呢?除非如上述特殊情况错检查是由气泡产生,并且经过研究或者验证气泡可经适当放置时间消除。这样两次不同的设置参数也需进行验证
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